TEM ja SEM

TEM vs. SEM

Sekä SEM (pyyhkäisyelektronimikroskooppi / mikroskopia) että TEM (lähetyselektronimikroskooppi / mikroskopia) viittaavat sekä elektroniseen mikroskooppiin käytettyyn välineeseen että menetelmään.

Näiden kahden välillä on useita samankaltaisuuksia. Molemmat ovat elektronimikroskooppityyppejä ja antavat mahdollisuuden nähdä, tutkia ja tutkia pieniä, subatomisia hiukkasia tai näytteen koostumuksia. Molemmat käyttävät myös elektronia (erityisesti elektronisäteitä), atomin negatiivisen varauksen. Molempien käytössä olevien näytteiden on myös "värjättävä" tai sekoitettava tietyn elementin kanssa kuvien tuottamiseksi. Näistä soittimista tuotetut kuvat ovat erittäin suurennettuja ja suurella tarkkuudella.

SEM: llä ja TEM: llä on kuitenkin eroja. SEM: ssä käytetty menetelmä perustuu hajaantuneisiin elektroneihin, kun taas TEM perustuu lähetettyihin elektroneihin. SEM: n sironneet elektronit luokitellaan peittäviksi tai sekundaarisiksi elektroneiksi. TEM: ssa ei kuitenkaan ole muuta elektronien luokittelua.

SEM: n sironneet elektronit tuottivat näytteen kuvan mikroskoopin keräämisen jälkeen ja laskeutuneet hajotetut elektronit. TEM: ssä elektronit suoraan kohti näytettä. Näytteet, jotka kulkevat näytteen läpi, ovat osia, jotka ovat valaistuina kuvassa. Analyysin painopiste on myös erilainen. SEM keskittyy näytteen pinnalle ja sen koostumukselle. Toisaalta TEM pyrkii näkemään, mikä on pinnan sisällä tai sen ulkopuolella. SEM näyttää myös näytteen bitin bittinä, kun taas TEM näyttää näytteen kokonaisuutena. SEM tarjoaa myös kolmiulotteisen kuvan, kun taas TEM tuottaa kaksiulotteisen kuvan.

Suurennoksella ja resoluutiolla TEM: lla on etu verrattuna SEM: een. TEM: ssä on jopa 50 miljoonaa suurennustasoa, kun SEM tarjoaa vain 2 miljoonaa suurennustasona. TEM: n resoluutio on 0,5 angstromia, kun taas SEM: llä on 0,4 nanometriä. SEM-kuvissa on kuitenkin paremmat syvyyskentät kuin TEM-tuotetuissa kuvissa. Eräs toinen ero on näytteen paksuus, "värjäys" ja valmisteet. TEM-näyte leikataan ohuemmaksi SEM-näytteestä poiketen. Lisäksi SEM-näyte "värjää" elementillä, joka kaappaa hajanneet elektronit.

SEM: ssa näyte valmistetaan erikoistuneista alumiiniprofiileista ja sijoitetaan instrumentin kammion pohjaan. Näytteen kuva projisoidaan CRT- tai televisiomainen näyttö. Toisaalta TEM edellyttää, että näyte valmistetaan TEM-ruudukossa ja asetetaan mikroskopian erikoiskammion keskelle. Kuva tuotetaan mikroskoopilla fluoresoivien näytöllä.

Toinen SEM-ominaisuus on, että alue, jossa näytettä sijoitetaan, voidaan kääntää eri kulmissa. TEM kehitettiin aikaisemmin kuin SEM. Max Knoll ja Ernst Ruska keksivät TEM: n vuonna 1931. Samaan aikaan SEM perustettiin vuonna 1942. Se kehitettiin myöhemmin koneen skannausprosessin monimutkaisuuden vuoksi.

Yhteenveto:

1.Muut SEM ja TEM ovat kahdenlaisia ​​elektronimikroskoppeja ja ovat työkaluja pienten näytteiden katseluun ja tutkimiseen. Molemmat instrumentit käyttävät elektroneja tai elektronisäteitä. Kummassakin työkalussa tuotetut kuvat ovat erittäin suurennettuja ja tarjoavat suurta tarkkuutta. 2.Miten mikroskooppi toimii hyvin erilainen kuin toinen. SEM skannaa näytteen pinnan vapauttamalla elektronit ja tekemällä elektronit pomppimaan tai hajottamaan iskun vaikutuksesta. Laite kerää hajotettuja elektroneja ja tuottaa kuvan. Kuva näkyy televisiomainen näyttö. Toisaalta TEM käsittelee näytettä ohjaamalla elektronisuihkua näytteen läpi. Tulos nähdään fluoresoivalla seulalla. 3. Kuvat ovat myös kahden työkalun ero. SEM-kuvat ovat kolmiulotteisia ja ne ovat tarkkoja esityksiä, kun taas TEM-kuvat ovat kaksiulotteisia ja saattavat vaatia hieman tulkintaa. Resoluution ja suurennuksen kannalta TEM saa enemmän etuja kuin SEM.